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晶錠方阻電阻率測試儀

晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產和品質監控,提供一整套完整測試和解決方案。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-06-26
  • 訪  問  量:633
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專注于非接觸式半導體計量分析技術的開發和生產 ,攻克被國外卡脖子技術。

產品廣泛應用于半導體、光伏、科研以及平板材料測試領域。借助公司*計量分析測試技術,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產和品質監控,提供一整套完整測試和解決方案。

晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,

一、

晶圓電阻率測試儀

硅片方阻測試儀

渦流法低電阻率分析儀

晶錠電阻率分析儀

樣品尺寸:2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品;

遷移率測量范圍:100-20000cm2/v.sec)

方塊電阻測量范圍:100-3000ohm/sq)

載流子面密度測量范圍:1E11-1E14cm-2);

電磁鐵磁場強度:1.0T

探頭線圈直徑:15mm



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