產(chǎn)品展示 PRODUCT
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，晶圓的厚度測(cè)量是至關(guān)重要的一環(huán)，它直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。為了滿(mǎn)足高精度測(cè)量的需求，我們研發(fā)了一款對(duì)射非接觸式光譜共焦位移傳感器厚度測(cè)量設(shè)備，專(zhuān)門(mén)用于晶圓厚度的精確測(cè)量
金剛石膜檢測(cè)與測(cè)試報(bào)告 檢測(cè)項(xiàng)目 金剛石膜的檢測(cè)項(xiàng)目主要包括以下幾個(gè)方面：膜厚度、晶體結(jié)構(gòu)、表面粗糙度、附著力、熱穩(wěn)定性及耐磨性等。
硅片厚度測(cè)試的方法主要包括非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù)，如反射率法、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??1。其中，反射率法是通過(guò)測(cè)量不同角度下光線(xiàn)的反射率變化來(lái)計(jì)算硅片厚度，而干涉法則是利用光的干涉現(xiàn)象來(lái)測(cè)量厚...
非接觸式半絕緣方阻測(cè)量技術(shù)可以廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域,比如材料表面導(dǎo)電性測(cè)試、薄膜導(dǎo)電性測(cè)量、電路板測(cè)試等。它具有測(cè)量快速、精度高、不損傷被測(cè)物體等優(yōu)點(diǎn)。
半絕緣電阻率通常介于1-1000歐姆·厘米之間，是描述半絕緣材料導(dǎo)電性能的關(guān)鍵參數(shù)。這種材料在電子工業(yè)中應(yīng)用廣泛，特別是在制造半導(dǎo)體器件、絕緣層和光電材料等方面。非接觸半絕緣電阻率可測(cè)試該產(chǎn)...
玻璃領(lǐng)域 半導(dǎo)體玻璃的電阻率及某些物理化學(xué)性質(zhì)在光、電、熱等作用下可發(fā)生顯著改變，從而賦予其的性能。半導(dǎo)體玻璃已廣泛應(yīng)用于光電倍增器、存儲(chǔ)器件、電子開(kāi)關(guān)等領(lǐng)域。
晶錠與晶片在半導(dǎo)體行業(yè)中扮演著不同的角色，它們之間的區(qū)別主要體現(xiàn)在形態(tài)、制備方式及應(yīng)用領(lǐng)域上。首先，晶錠，或稱(chēng)為單晶硅棒，是一種長(zhǎng)條狀的半導(dǎo)體材料，通常采用特定方法制備，直徑多為200mm或300mm...
隨著光伏產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展，生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量的提升已成為行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。在光伏電池片的生產(chǎn)中，方阻檢測(cè)是確保電池片質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。傳統(tǒng)的方阻檢測(cè)方法大多依賴(lài)接觸式測(cè)試，這不僅容易損傷材料，還難...
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2021年
公司成立1000萬(wàn)
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2025-04-12半絕緣碳化硅與導(dǎo)電性碳化硅在電特性和應(yīng)用領(lǐng)域上差異顯著。半絕緣碳化硅，作為一種電阻率較高的材料，其電阻率范圍通常在10^5-10^12Ω.cm，非常適用于高溫、高電壓環(huán)境，如電力電子設(shè)備和電動(dòng)汽車(chē)部件。而導(dǎo)電性碳化硅，電阻率低，位于10^-3-10^-2Ω.cm之間，更適合低壓、高電流場(chǎng)景，如功率半導(dǎo)體和射頻電子器件。此外，由于成分和制備工藝的差異，導(dǎo)電性碳化硅的成本相對(duì)較高，而半絕緣碳化硅則因其電性能要求較低而成本更為親民。因此，在選擇材料時(shí)，需根據(jù)具體應(yīng)用環(huán)境來(lái)決定：高溫...
2025-03-28無(wú)損方塊電阻測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料表面電阻的儀器，特別適用于評(píng)估半導(dǎo)體材料、電導(dǎo)體、絕緣體以及其他具有電導(dǎo)性能的材料。與傳統(tǒng)的電阻測(cè)試方法不同，通過(guò)非接觸方式進(jìn)行測(cè)量，無(wú)需破壞或接觸被測(cè)試材料的表面，具有高精度、高效率和對(duì)測(cè)試對(duì)象的保護(hù)作用。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電子元器件、材料科學(xué)、表面處理等領(lǐng)域。在工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中，檢測(cè)電導(dǎo)性能可以有效地保證產(chǎn)品質(zhì)量，確保制造過(guò)程中材料的電學(xué)性能符合標(biāo)準(zhǔn)要求。無(wú)損方塊電阻測(cè)試儀的主要特點(diǎn)：1.無(wú)接觸測(cè)試大的優(yōu)勢(shì)之一就是其無(wú)接觸性。傳統(tǒng)的電阻測(cè)...
2025-02-28非接觸電阻率測(cè)試儀是一種先進(jìn)的電氣測(cè)量工具，旨在精準(zhǔn)測(cè)量材料的電阻率而無(wú)需與樣品直接接觸。這種儀器在電子、材料科學(xué)、電氣工程和環(huán)保監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用。隨著科技進(jìn)步和市場(chǎng)需求的增加，應(yīng)用場(chǎng)景正在不斷擴(kuò)展。非接觸電阻率測(cè)試儀的工作原理：1.電磁感應(yīng)原理：利用高頻電流通過(guò)探頭產(chǎn)生的電磁場(chǎng)與樣品的相互作用，來(lái)測(cè)量材料的電阻特性。儀器通過(guò)變化電磁場(chǎng)的強(qiáng)度和頻率，從而分析材料的電導(dǎo)和電阻率。2.反射和透射技術(shù)：通過(guò)向樣品發(fā)射電信號(hào)，并分析其反射或透射回來(lái)的信號(hào)，以確定材料的電阻率。這...
2025-02-18硅片電阻率測(cè)試儀的維護(hù)工作對(duì)于確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和儀器的使用壽命至關(guān)重要。日常清潔外殼與電極清潔：定期使用干細(xì)棉布或擦拭紙輕輕擦拭測(cè)試儀的外殼，去除灰塵、油污等雜質(zhì)，防止其進(jìn)入儀器內(nèi)部影響性能。對(duì)于測(cè)量電極部分，更要仔細(xì)清潔，可使用干凈的棉簽蘸取少量酒精進(jìn)行擦拭，去除電極上的污垢和殘留物，但要注意避免液體接觸到儀器內(nèi)部的電子元件。顯示面清潔：先用拭鏡紙輕輕擦拭顯示面表面，去除灰塵和指紋等污漬，然后再用棉花棒沾工業(yè)用酒精，輕輕擦拭顯示面表面，并需等酒精揮發(fā)后，再裝回去。注意擦...
2025-02-08知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)?是指企業(yè)貫徹《企業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)管理規(guī)范》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的過(guò)程。該標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局制訂，并經(jīng)由國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)批準(zhǔn)頒布，于2013年3月1日起實(shí)施，標(biāo)準(zhǔn)號(hào)為GB/T29490-2013。?12知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)的目的和意義知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)的核心目的是為建立企業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)工作的規(guī)范體系，加強(qiáng)對(duì)企業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)創(chuàng)造、運(yùn)用、管理和保護(hù)的管理，增強(qiáng)自主創(chuàng)新能力，提高國(guó)際、國(guó)內(nèi)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)能力。通過(guò)貫標(biāo)，企業(yè)可以規(guī)范知識(shí)產(chǎn)權(quán)管理的基礎(chǔ)條件、資源管理、生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)各個(gè)環(huán)節(jié)的管...
2025-01-16非接觸電阻率測(cè)試儀的使用指南：設(shè)備安裝儀器放置：放置在平穩(wěn)、干燥、無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾且通風(fēng)良好的工作臺(tái)上，避免陽(yáng)光直射和高溫環(huán)境，以防儀器內(nèi)部元件受損。同時(shí)，要確保測(cè)試區(qū)域周?chē)凶銐虻目臻g，方便操作人員進(jìn)行樣品放置和測(cè)試操作。連接電源：使用標(biāo)準(zhǔn)三插頭電源線(xiàn)，將測(cè)試儀的電源接口與220V交流電插座連接，并確保電源地線(xiàn)正確連接，以保證儀器的電氣安全。設(shè)備檢查外觀(guān)檢查：仔細(xì)檢查測(cè)試儀的外觀(guān)是否有損壞、變形或裂縫等情況。特別要注意探頭部分是否清潔、無(wú)磨損，顯示屏是否清晰可見(jiàn)、無(wú)劃痕等。如果...
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